產品詳情
簡單介紹：
德國EPK公司塗層測厚儀MiniTest1100/2100/3100/4100塗層測厚儀用於測量以下覆層（覆層包括塗層，鍍層等）：鋼鐵基體上的非磁性覆層；有色金屬上的絕緣覆層；絕緣基體上的有色金屬覆層。
詳情介紹：
德國EPK公MiniTest1100/2100/3100/4100塗層測厚儀用於測量以下覆層（覆層包括塗層，鍍層等）：鋼鐵基體上的非磁性覆層；有色金屬上的絕緣覆層；絕緣基體上的有色金屬覆層。
塗層測厚儀MiniTest1100/2100/3100/4100的詳細介紹
塗層測厚儀MiniTest1100/2100/3100/4100
德國EPK(Elektrophysik)公司塗層測厚儀MiniTest1100/2100/3100/4100特點：
塗層測厚儀MiniTest1100/2100/3100/4100包括四種不同的主機，各自具有不同的數據處理功能；
**型號均可配**探頭；
可通過RS232接口連接MiniPrint打印機和計算機；
可使用一片或二片標準箔校準。
塗層測厚儀MiniTest1100/2100/3100/4100功能:
塗層測厚儀MiniTest1100/2100/3100/4100可選探頭參數(探頭圖示)
**探頭都可配合任一主機使用。在選擇*適用的探頭時需要考慮覆層厚度，基體材料以及基體的形狀、厚度、大小、幾何尺寸等因素。
F型探頭：測量鋼鐵基體上的非磁性覆層
N型探頭：測量有色金屬基體上的絕緣覆層
FN兩用探頭：同時具備F型和N性探頭的功能
塗層測厚儀MiniTest1100/2100/3100/4100探頭圖示
塗層測厚儀MiniTest1100/2100/3100/4100說明書和軟件請上資料下載http://www.bjvipc.com/htmlstyle/files.html
德國EPK(Elektrophysik)公司塗層測厚儀MiniTest1100/2100/3100/4100特點：
塗層測厚儀MiniTest1100/2100/3100/4100包括四種不同的主機，各自具有不同的數據處理功能；
**型號均可配**探頭；
可通過RS232接口連接MiniPrint打印機和計算機；
可使用一片或二片標準箔校準。
塗層測厚儀MiniTest1100/2100/3100/4100功能:
| 型號塗層測厚儀MiniTest1100/2100/3100/4100 |
1100
|
2100
|
3100
|
4100
|
| MINITEST 存儲的數據量 | ||||
| 應用行數(根據不同探頭或測試條件而記憶的校準基礎數據數) |
1
|
1
|
10
|
99
|
| 每個應用行下的組(BATCH)數(對組內數據自動統計，並可設寬容度極限值) |
-
|
1
|
10
|
99
|
| 可用各自的日期和時間標識特性的組數 |
-
|
1
|
500
|
500
|
| 數據總量 |
1
|
10000
|
10000
|
10000
|
| MINITEST統計計算功能 | ||||
| 讀數的六種統計值x,s,n,max,min,kvar |
-
|
√
|
√
|
√
|
| 讀數的八種統計值x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk |
-
|
-
|
√
|
√
|
| 組統計值六種x,s,n,max,min,kvar |
-
|
-
|
√
|
√
|
| 組統計值八種x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk |
-
|
-
|
√
|
√
|
| 存儲顯示每一個應用行下的**組內數據 |
-
|
-
|
-
|
√
|
| 分組打印以上顯示和存儲的數據和統計值 |
-
|
-
|
√
|
√
|
| 顯示並打印測量值、打印的日期和時間 |
-
|
√
|
√
|
√
|
| 其他功能 | ||||
| 透過塗層進行校準(CTC) |
-
|
√
|
√
|
√
|
| 在粗糙表麵上作平均零校準 |
√
|
√
|
√
|
√
|
| 利用計算機進行基礎校準 |
√
|
√
|
√
|
√
|
| 補償一個常數(Offset) |
-
|
-
|
√
|
√
|
| 外設的讀值傳輸存儲功能 |
-
|
√
|
√
|
√
|
| 保護並鎖定校準設置 |
√
|
√
|
√
|
√
|
| 更換電池是存儲數值 |
√
|
√
|
√
|
√
|
| 設置極限值 |
-
|
-
|
√
|
√
|
| 公英製轉換 |
√
|
√
|
√
|
√
|
| 連續測量模式快速測量，通過模擬柱識別*大*小值 |
-
|
-
|
√
|
√
|
| 連續測量模式中測量穩定後顯示讀數 |
-
|
-
|
√
|
√
|
| 浮點和定點方式數據傳送 |
√
|
√
|
√
|
√
|
| 組內單值延遲顯示 |
-
|
√
|
√
|
√
|
| 連續測量模式中顯示*小值 |
√
|
√
|
√
|
√
|
塗層測厚儀MiniTest1100/2100/3100/4100可選探頭參數(探頭圖示)
**探頭都可配合任一主機使用。在選擇*適用的探頭時需要考慮覆層厚度，基體材料以及基體的形狀、厚度、大小、幾何尺寸等因素。
F型探頭：測量鋼鐵基體上的非磁性覆層
N型探頭：測量有色金屬基體上的絕緣覆層
FN兩用探頭：同時具備F型和N性探頭的功能
|
探頭
|
量程
|
低端
分辨率 |
誤差
|
*小曲率
半徑(凸/凹) |
*小測量
區域直徑 |
*小基
體厚度 |
探頭尺寸
|
|
|
磁
感 應 法 |
F05
|
0-500μm
|
0.1μm
|
±(1%±0.7μm)
|
1/5mm
|
3mm
|
0.2mm
|
φ15x62mm
|
|
F1.6
|
0-1600μm
|
0.1μm
|
±(1%±1μm)
|
1.5/10mm
|
5mm
|
0.5mm
|
φ15x62mm
|
|
|
F1.6/90
|
0-1600μm
|
0.1μm
|
±(1%±1μm)
|
平麵/6mm
|
5mm
|
0.5mm
|
φ8x8x170mm
|
|
|
F3
|
0-3000μm
|
0.2μm
|
±(1%±1μm)
|
1.5/10mm
|
5mm
|
0.5mm
|
φ15x62mm
|
|
|
F10
|
0-10mm
|
5μm
|
±(1%±10μm)
|
5/16mm
|
20mm
|
1mm
|
φ25x46mm
|
|
|
F20
|
0-20mm
|
10μm
|
±(1%±10μm)
|
10/30mm
|
40mm
|
2mm
|
φ40x66mm
|
|
|
F50
|
0-50mm
|
10μm
|
±(3%±50μm)
|
50/200mm
|
300mm
|
2mm
|
φ45x70mm
|
|
|
兩
用 |
FN1.6
|
0-1600μm
|
0.1μm
|
±(1%±1μm)
|
1.5/10mm
|
5mm
|
F0.5mm
N50μm |
φ15x62mm
|
|
FN1.6P
|
0-1600μm
|
0.1μm
|
±(1%±1μm)
|
平麵
|
30mm
|
F0.5mm
N50μm |
φ21x89mm
|
|
|
FN2
|
0-2000μm
|
0.2μm
|
±(1%±1μm)
|
1.5/10mm
|
5mm
|
F0.5mm
N50μm |
φ15x62mm
|
|
|
電
渦 流 法 |
N02
|
0-200μm
|
0.1μm
|
±(1%±0.5μm)
|
1/10mm
|
2mm
|
50μm
|
φ16x70mm
|
|
N.08Cr
|
0-80μm
|
0.1μm
|
±(1%±1μm)
|
2.5mm
|
2mm
|
100μm
|
φ15x62mm
|
|
|
N1.6
|
0-1600μm
|
0.1μm
|
±(1%±1μm)
|
1.5/10mm
|
2mm
|
50μm
|
φ15x62mm
|
|
|
N1.6/90
|
0-1600μm
|
0.1μm
|
±(1%±1μm)
|
平麵/10mm
|
5mm
|
50μm
|
φ13x13x170mm
|
|
|
N10
|
0-10mm
|
10μm
|
±(1%±25μm)
|
25/100mm
|
50mm
|
50μm
|
φ60x50mm
|
|
|
N20
|
0-20mm
|
10μm
|
±(1%±50μm)
|
25/100mm
|
70mm
|
50μm
|
φ65x75mm
|
|
|
N100
|
0-100mm
|
100μm
|
±(1%±0.3mm)
|
100mm/平麵
|
200mm
|
50μm
|
φ126x155mm
|
|
|
CN02
|
10-200μm
|
0.2μm
|
±(1%±1μm)
|
平麵
|
7mm
|
無限製
|
φ17x80mm
|
|
| 注： | F1.6/90、F2/90、N1.6/90、N2/90為直角探頭，用於管內測量。 N.08Cr適合銅上鉻，FN2也適合銅上鉻。 CN02用於絕緣體上的有色金屬覆層。 |
塗層測厚儀MiniTest1100/2100/3100/4100探頭圖示
 |
FN1.6 0～1600μm,φ5mm 兩用測頭，可測銅鐵基體上的非磁性覆層與有色金屬 基體上的絕緣覆層 量程低端分辨率很高(0.1μm) |
 |
FN1.6P 0～1600μm,φ30mm 兩用測頭， *適合測粉末狀的覆層厚度 |
 |
F05 0～500μm,φ3mm 磁性測頭，適於測量細小鋼鐵物體的薄覆層，如金屬鍍層，氧化層等 量程低端分辨宰很高(0.1μm) |
 |
F1.6 0～1600μm,φ5mm 磁性測頭 量程低端分辨率很高(0.1μm) |
 |
F3 0～3000μm,φ5mm 磁性測頭 可用於較厚的覆層 |
 |
F1.6/90 0～1600μm,φ5mm 90度磁性測頭 尤其適合於在管內壁測量 量程低端分辨率很高(0.1μm) |
 |
F10 0～10mm,φ20mm 適合測量鋼結構(如水箱、管道等)上的防腐覆層，如玻璃、塑膠、混凝土等 |
 |
F20 0～20mm,φ40mm 適合測量鋼結構(如水箱、管道等)上的防腐覆層，如玻璃、塑膠、混凝土等 |
 |
F50 0～50mm,φ300mm 適合測量鋼結構(如水箱、管道等)上的防腐覆層的隔音覆層 |
 |
N02 0～200μm,φ2mm 非磁性測頭，尤其適合測量有色金屬基體上的氧化層等很薄的絕緣覆層 量程低端分辨率很高(0.1μm) |
 |
N0.8Cr 0～80μm,φ2mm 適用於測量銅、鋁、黃銅上的極薄鍍鉻層 |
 |
N1.6 0～1600μm,φ2mm 非磁性測頭，適於測量有色金屬基體上的較薄的絕緣覆層 量程低端分辨率很高(0.1μm) |
 |
N1.6/90 0～1600μm,φ5mm 磁性測頭，適於測量較薄的絕緣覆層 尤其適合在管內壁測量 量程低端分辨率很高(0.1μm) |
 |
N10 0～10mm,φ50mm 非磁性測頭，適於測量較厚的絕緣覆層，如橡膠玻璃等 |
 |
N20 0～20mm,φ70mm 非磁性測頭，適於測量較厚的絕緣覆層，如橡膠玻璃等 |
 |
N100 0～100mm,200mm 非磁性測頭，適於測量較厚的絕緣覆層，如橡膠玻璃等 |
 |
CN02 10～200μm,φ7mm 用於測量絕緣材料上的有色金屬覆層，如覆銅板 |